日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT 測厚儀
更新日期：2024-05-15
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簡要描述：
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。
日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)?？赏瑫r測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調整光學系統(tǒng)，無需復雜設置，而且設置非常簡單。
主要特點
集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數
標準維護時間記錄的相機測量位置放個樣品就行了。無需調整光學元件，非常容易設置
主要應用
| 平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學膜 |
|---|---|
| 光學鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質涂層。 |
| 薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
產品陣容
| 模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX |
|---|---|---|---|---|---|
測量波長 范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 190 – 1700nm |
膜厚測量 范圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
準確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | ||
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