摘要：本文介紹了TOF-4R05型離線接觸式測厚儀的技術(shù)特點(diǎn)和應(yīng)用。該測厚儀采用接觸式和線性規(guī)/夾緊方法進(jìn)行測量，適用于薄膜和片材的厚度測量。它具有輕松快速的測量過程和實(shí)時(shí)顯示測量數(shù)據(jù)的優(yōu)勢。同時(shí)，測量數(shù)據(jù)可以自動保存到計(jì)算機(jī)中，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確記錄。該測厚儀還可用于質(zhì)量控制、研究和開發(fā)等應(yīng)用領(lǐng)域。

1. 引言

離線接觸式測厚儀是一種用于測量薄膜和片材厚度的設(shè)備。TOF-4R05型測厚儀采用接觸式和線性規(guī)/夾緊方法，能夠快速準(zhǔn)確地測量材料的厚度。該測厚儀在質(zhì)量控制、研究和開發(fā)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

2. 技術(shù)特點(diǎn)

TOF-4R05型離線接觸式測厚儀具有以下技術(shù)特點(diǎn)：

2.1 輕松快速的離線測量：使用接觸式和線性規(guī)/夾緊方法，可輕松、快速地進(jìn)行離線厚度測量。測量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上。

2.2 自動數(shù)據(jù)保存：測量數(shù)據(jù)可以自動保存到計(jì)算機(jī)中，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確記錄和方便管理。

2.3 適用于各種材料：TOF-4R05型測厚儀適用于測量薄膜和片材，包括有卷曲等特殊情況的厚紙材料。

2.4 最小顯示值為0.5微米：該測厚儀具有高精度的測量能力，最小顯示值為0.5微米，可以滿足對細(xì)小厚度變化的需求。

3. 應(yīng)用領(lǐng)域

TOF-4R05型離線接觸式測厚儀廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

3.1 質(zhì)量控制：在生產(chǎn)過程中，測量材料的厚度對于確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。TOF-4R05型測厚儀可以快速、準(zhǔn)確地測量材料的厚度，并幫助實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制。

3.2 研究和開發(fā)：在新材料的研究和開發(fā)過程中，需要對材料的厚度進(jìn)行準(zhǔn)確測量。TOF-4R05型測厚儀可以提供精確的厚度數(shù)據(jù)，為研究人員和開發(fā)人員提供重要參考。

4. 產(chǎn)品規(guī)格

TOF-4R05型離線接觸式測厚儀的主要規(guī)格如下：

• 測量厚度范圍：0.03～3mm

• 測量長度范圍：10～10000mm

• 測量間距：1毫米以上

• 最小顯示值：0.5微米

• 測量壓力：0.6±0.1N

• 電源電壓：AC100~240V 50/60Hz

• 工作溫度限制：5～40℃

• 濕度限制：35-80%（無冷凝）

5. 結(jié)論

TOF-4R05型離線接觸式測厚儀具有輕松快速的測量過程和實(shí)時(shí)顯示測量數(shù)據(jù)的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研究和開發(fā)等領(lǐng)域。其高精度的測量能力和自動數(shù)據(jù)保存功能，使得該測厚儀成為理想的選擇。未來，我們相信TOF-4R05型測厚儀將在材料測量領(lǐng)域發(fā)揮更多重要作用。